Theo một nghiên cứu của các nhà khoa học thuộc Trường đại học Yale (Mỹ) công bố ngày 9/4, những người đi chụp X quang răng thường xuyên có nguy cơ bị u não cao hơn so với những người khác.

Nghiên cứu này được thực hiện với 1.433 bệnh nhân bị u màng não trong độ tuổi từ 20 đến 79, cho thấy những người đi chụp X quang răng hàng năm có nguy cơ bị mắc dạng u này cao gấp từ 1,4 đến 3 lần so với những người không đi chụp X quang răng và tỷ lệ bị mắc dạng u trên phụ thuộc vào kiểu chụp X quang răng.

U màng não là một khối u hình thành trong lớp màng bao bọc não và tủy sống. Đây là những khối u lành và chúng ít khi phát triển nhanh, tuy nhiên, những khối u này có thể làm mất các chức năng hoạt động của con người và có nguy cơ gây chết người trong một số trường hợp.

Theo bà Elizabeth Claus, trưởng nhóm nghiên cứu trên, những người đi khám răng hiện bị phơi nhiễm những bức xạ không mạnh như trước đây.

“Nghiên cứu nói trên đã tạo cho chúng tôi cơ hội nâng cao cảnh giác về việc sử dụng các tia X quang để chụp răng”.

Theo Vietnam+